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中国成功研制出航天传感器测量芯片


    据航天科工网站报道,日前在中国航天科工三院33所八室ASIC试验室诞生了第一颗33所自主设计的ASIC芯片FDC3301。FDC3301成功研制标志着中国航天科工三院33所电子技术领域从板级拓展到了芯片级,正由芯片使用者向芯片的设计者转变。

    该芯片主要用于完成振梁加速度计频率信号的同步连续测量,可直接输出被测信号浮点值频率。ASIC芯片可应于航空航天传感器频率测量,工业领域测试和测量系统等。

 

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